低压综合配电箱温升影响因素研究
贾晓明1，戴建卓2，贾勇勇2，金心如2，韩侃3
(1 国网江苏省电力有限公司检修分公司，江苏 南京 211103；
2 国网江苏省电力有限公司电力科学研究院，江苏 南京 211103；
3 苏州电器科学研究院股份有限公司，江苏 苏州 215104)
摘 要：通过对低压综合配电箱 (JP 柜) 的质量抽检，发现其温升试验不合格率较高，一旦温升超过限值将影响设备安全稳定运行。对不同供应商的 JP 柜开展了温升试验，比较了 JP 柜空间布局、塑壳断路器型号、母排结构尺寸等方面差异，分析了 JP 柜中塑壳断路器的温升超标原因，对 JP 柜中塑壳断路器选用及结构优化等方面提出了相关建议。
关键词：低压综合配电箱 (JP 柜) ；塑壳断路器；温升试验
中图分类号：TM594 文献标识码：B 文章编号：1007-3175(2021)05-0037-04
Research on Influencing Factors of Temperature Rise of
Low-Voltage Integrated Distribution Box
JIA Xiao-ming1, DAI Jian-zhuo2, JIA Yong-yong2, JIN Xin-ru2, HAN Kan3
（1 State Grid Jiangsu Electric Power Company Maintenance Branch, Nanjing 211103, China;
2 State Grid Jiangsu Electric Power Company Research Institute, Nanjing 211103, China;
3 Suzhou Electrical Apparatus Science Research Institute Co., Ltd, Suzhou 215104, China）
Abstract: Through the quality inspection of the low-voltage integrated distribution box also called JP cabinet, it is found that the temperature rise test has a high unqualified rate. Once the temperature rise exceeds the limit, the safe and stable operation of the equipment will be affected. The author carried out temperature rise tests on JP cabinets from different suppliers, compared the differences in JP cabinet space layout, molded case circuit breaker model, busbar structure size, etc., and analyzed the reasons for the excessive temperature rise of the molded case circuit breaker in the JP cabinet. Relevant suggestions are put forward for the selection and structural optimization of molded case circuit breakers in JP cabinets.
Key words: low-voltage integrated distribution box(JP cabinet); molded case circuit breaker; temperature rise test
参考文献
[1] 李林，余意平. 塑壳断路器温升变化的影响因素[J]. 电工电气，2012(11) ：62-64.
[2] 曹东明. 试论低压成套开关设备的温升及其试验[J]. 自动化与仪器仪表，2015(8) ：223-225.
[3] 张正. 新国标 GB 7251.1—2013 低压成套开关设备和控制设备的温升试验方法解读[J] . 电器与能效管理技术，2015(1) ：67-72.
[4] 刘斌，任静. 低压成套开关设备温升测试及影响因素探析[J] . 建筑工程技术与设计，2018(17) ：5348.
[5] 冯聪聪，游坤奇，张桂友. 低压成套开关设备温升试验方法综述[J]. 质量与认证，2019(5) ：71-73.
