试验量值对低压电器极限通断能力的影响分析
叶小木，王建新
(温州海关综合技术服务中心低压电器实验室，浙江 温州 325604)
摘 要：基于低压电器极限通断能力测试的技术要点，从实验室检测的角度对影响低压电器极限通断能力的试验量值进行分析，使其在满足标准规定的要求基础上，合理设置测试参数，满足试验要求。通过理论分析与判断，对低压电器极限通断能力测试中常见的认识定义进行了阐述，可为检测实验室进行线路和设备调节设置与结果判断提供参考。
关键词： 极限通断能力；试验量值；低压电器；实验室
中图分类号：TM933 文献标识码：A 文章编号：1007-3175(2022)07-0065-04
Analysis of the Influence of the Test Value on the Ultimate Limit Short-
Circuit Making and Breaking Capacity of Low-Voltage Apparatus
YE Xiao-mu, WANG Jian-xin
（Low-Voltage Apparatus Testing Laboratory of the Comprehensive Technical Service Center of Wenzhou Customs, Wenzhou 325604, China）
Abstract: This paper analyzed the test value which affects the ultimate limit short-circuit making and breaking capacity of low-voltage apparatus from the perspective of laboratory testing based on technical points. This analysis could help set the test parameters reasonably to meet the requirements of the test based on the standard. This research elaborated the common understanding and definitions of the ultimate limit short-circuit making and breaking capacity of low-voltage apparatus testing. The result provides a reference for the testing laboratory to set up the circuit
and equipment adjustment and judge the results.
Key words: ultimate limit short-circuit making and breaking capacity; test value; low-voltage apparatus; laboratory
参考文献
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